Substrato 4H-SiC tipo P de 2 ~ 6 polgadas a 4°

Breve descrición:

O substrato 4H-SiC de tipo P de 4° é un material semicondutor específico, onde o "ángulo de desviación de 4°" refírese a que o ángulo de orientación do cristal da oblea é de 4 graos e o "tipo P" refírese a o tipo de condutividade do semicondutor. Este material ten importantes aplicacións na industria de semicondutores, especialmente nos campos da electrónica de potencia e da electrónica de alta frecuencia.


Detalle do produto

Etiquetas de produtos

Os substratos 4H-SiC de tipo P de 2 ~ 6 polgadas e 4° fóra de ángulo de Semicera están deseñados para satisfacer as crecentes necesidades dos fabricantes de dispositivos de RF e potencia de alto rendemento. A orientación fóra do ángulo de 4 ° garante un crecemento epitaxial optimizado, facendo deste substrato unha base ideal para unha variedade de dispositivos semicondutores, incluíndo MOSFET, IGBT e díodos.

Este substrato 4H-SiC tipo P de 2 ~ 6 polgadas e 4° ten excelentes propiedades do material, incluíndo unha alta condutividade térmica, un excelente rendemento eléctrico e unha excelente estabilidade mecánica. A orientación fóra do ángulo axuda a reducir a densidade de microtubos e promove capas epitaxiais máis suaves, o que é fundamental para mellorar o rendemento e a fiabilidade do dispositivo semicondutor final.

Os substratos 4H-SiC de tipo P de 2 ~ 6 polgadas e 4 ° fóra do ángulo de Semicera están dispoñibles nunha variedade de diámetros, que van desde 2 polgadas ata 6 polgadas, para satisfacer diferentes requisitos de fabricación. Os nosos substratos están deseñados con precisión para proporcionar niveis de dopaxe uniformes e características de superficie de alta calidade, garantindo que cada oblea cumpra as especificacións rigorosas necesarias para aplicacións electrónicas avanzadas.

O compromiso de Semicera coa innovación e a calidade garante que os nosos substratos 4H-SiC tipo P de 2 ~ 6 polgadas e 4° ofrecen un rendemento consistente nunha ampla gama de aplicacións, desde electrónica de potencia ata dispositivos de alta frecuencia. Este produto ofrece unha solución fiable para a próxima xeración de semicondutores de alto rendemento e eficientes enerxéticamente, apoiando os avances tecnolóxicos en industrias como a automoción, as telecomunicacións e as enerxías renovables.

Estándares relacionados co tamaño

Tamaño

2 polgadas

4 polgadas

Diámetro 50,8 mm ± 0,38 mm 100,0 mm+0/-0,5 mm
Orentación da superficie 4°cara <11-20>±0,5° 4°cara <11-20>±0,5°
Lonxitude plana primaria 16,0 mm ± 1,5 mm 32,5 mm ± 2 mm
Lonxitude plana secundaria 8,0 mm ± 1,5 mm 18,0 mm ± 2 mm
Orientación primaria de piso Paralelo <11-20>±5,0° Paralelo<11-20>±5,0c
Orientación de piso secundario 90 ° CW desde o primario ± 5,0 °, silicio cara arriba 90 ° CW desde o primario ± 5,0 °, silicio cara arriba
Acabado superficial Cara C: Pulido óptico, Cara Si: CMP Cara C: Polaco óptico, Cara Si: CMP
Borde de oblea Biselado Biselado
Rugosidade superficial Si-Face Ra <0,2 nm Si-Face Ra <0,2 nm
Espesor 350,0 ± 25,0 um 350,0 ± 25,0 um
Politipo 4H 4H
Dopaxe Tipo p Tipo p

Estándares relacionados co tamaño

Tamaño

6 polgadas
Diámetro 150,0 mm+0/-0,2 mm
Orientación da superficie 4°cara <11-20>±0,5°
Lonxitude plana primaria 47,5 mm ± 1,5 mm
Lonxitude plana secundaria Ningún
Orientación primaria de piso Paralelo a <11-20>±5,0°
Orientación plana secundaria 90 ° CW desde o primario ± 5,0 °, silicio cara arriba
Acabado superficial Cara C: Pulido óptico, Cara Si: CMP
Borde de oblea Biselado
Rugosidade superficial Si-Face Ra <0,2 nm
Espesor 350,0 ± 25,0 μm
Politipo 4H
Dopaxe Tipo p

Raman

Substrato 4H-SiC tipo P de 2-6 polgadas a 4° de ángulo desviado-3

Curva oscilante

Substrato 4H-SiC tipo P de 2-6 polgadas 4° fóra de ángulo

Densidade de luxación (gravado KOH)

Substrato 4H-SiC tipo P de 2-6 polgadas a 4° de ángulo desviado-5

KOH gravando imaxes

Substrato 4H-SiC tipo P de 2-6 polgadas a 4° de ángulo desviado-6
Obleas de SiC

  • Anterior:
  • Seguinte: